静電破壊試験装置(ESD TESTER)S5000(128~256PIN対応)

製品紹介
本システムは独自に開発したメカニカル機構(PAT.)により、放電経路を最短にし、データに大きな影響のあるインダクタンス、経路容量を出来る限り低く押えています。放電経路はソケットボードまで同じ経路を使用しますので、全ピン同一条件で安定したデータを獲得することが出来ます。日本のESD TESTERの基礎を築いた装置です。
特長
単一放電経路の実現
- 全ピン同一放電経路を使用し、放電波形の安定性が大変良い装置となります。
多彩な規格波形への対応
- 日本・海外を問わず、規格波形を再現いたします。(JEITA、ESDA、JEDECなど)
アプリケーションの柔軟性
- マニュアル・自動測定など、ニーズに合ったシステムをご提供できます。
ラッチアップ試験への対応
- パルス電流注入法、電源過電圧法、ESDパルス印加法への対応が可能になっております。
データの加工性
- 測定結果をテキストファイルに保存し、他のアプリケーションで任意のフォームにて加工できます。
自動システム
最大テストピン数 | 128/256ピン |
---|---|
標準コンデンサー/抵抗 | 200pF/0Ω |
オプション | 100pF/1500Ω,10pF |
パルス電圧 | ±10V~±4000V |
パルス電圧ステップ | Min.10V |
パルス印加回数 | 1~99 times |
パルス間隔時間 | 0.3~9.9s |
充電電圧精度 | 1%~±5V |
測定電圧 | ±40V (Step 0.1V) |
電流測定精度 | 0.5± (1/500FS±1ns) |
DC供給電源 | ±35V (Step 0.1V)/1A |
外形寸法 | 1240(W)×800(D)×1480(H) |
重量 | 100Kg~150Kg |
OS | Windows |
電圧/電流 | 100V/15A |
取扱製品
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