取扱製品｜美浜株式会社

静電破壊試験装置（ESD TESTER）N5000（256～1024PIN対応）

静電破壊試験装置（ESD TESTER）N5000（256～1024PIN対応）

製品紹介

本システムは独自に開発したメカニカル機構により、1024ピンのデバイスまで試験が可能となっております。占有スペースも小さく、従来の256ピン対応の装置程度です。試験機能は最新規格に合ったESD試験、ラッチアップ試験に対応し、フレンドリーな操作性で精度の高い試験を実現できます。

特長

複数同時印加が可能

  • 最大8個のソケットを取り付け、各ソケットへ同時印加が可能。また、ソフトも複数デバイスに対応しています。

多彩な波形への対応

  • 日本・海外を問わず、規格波形を再現いたします。（JEITA、ESDA、JEDECなど）

アプリケーションの柔軟性

  • マニュアル・自動測定など、ニーズに合ったシステムをご提供できます。

ラッチアップ試験への対応

  • パルス電流注入法、電源過電圧法、ESDパルス印加法、過電圧印加法への対応が可能になっております。

既存資産の有効活用

  • 従来のS5000シリーズのソケット基板が、アタッチメント装着で、使用できます。

システム構成と機能

装置は試験ピン数　256、512、768,1024ピンから選択できます。
＊2/6はバイアス用DC電源を示します。2は、2電源タイプ、6は6電源タイプを表します。

機種 試験ピン数 ESD試験 ラッチアップ試験（オプション）
HED-N5256-D2/6 256ピン <規格対応> <規格対応>
HED-N5512-D2/6 512ピン JEITA規格、JEDEC規格，ESDA規格などに対応 JEITA規格、JEDEC規格などに対応
HED-N5768-D2/6 768ピン <試験モデル> <試験モデル>
MM(200PF,0 Ω)×2 静電ラッチアップ機能(200PF,0 Ω)
HBM(100PF,1500Ω)×2が標準装備 電流ラッチアップ機能 (パルス電流注入法)
HED-N5512-D2/6 1024ピン   電源ラッチアップ機能 (醐過電圧法)
過電圧ラッチアップ機能

仕様

装置モデル HED－N***D-#/6
<***は、ピン数(256,512,768,1024)　#は、バイアス電源数（2,3,4,5,6)＞
電源／電流容量 512ピンまでは100V/ 15A、1024ピンは100V/20A
最大測定ピン数 256ピン、512ピン、768ピン、1024ピン
パルス印加ユニット MM ×2台、HBM ×2台を標準装備
パルス電圧 0～±4000V 、オプションとして±8000V
パルス電圧ステップ ±10V
パルス印加回数 1～99回
パルスインターバル 0.3～9.9S
充電電圧精度 1%± 10V
バイアスDC電源 ±35V/ 1A、最大6電源（投入順番の設定可能）
過電圧
（ラッチアップ試験用） 		100V(1Vステップ）
Vf/Im測定電源 ±40V(0.1Vステップ)／100mA
Vf/Im測定精度 1%±(1/500FS±10nA）
パルス電流源 ±1A(1mAステップ）
波形サンプリング
（ラッチアップ試験用） 		10MHz、Max4000POINT
破壊判定 絶対値判定、変化量判定から選択
Iih,Iil、Iccでの判定も可能
ファンクションでの判定も可能（オプション）
外形寸法 1600(W) × 900(D) × 1500(H)
重量 150Kg 200Kg
OS Windows

ソケットボード

ソケットボード
  • 最大8個まで、ソケットを取り付けて同時印加可能です。
  • あらゆるパッケージに対するソケットボードが可能です。

印加ユニット

印加ユニット
  • 印加ユニットは脱着方式です。
  • 標準でマシンモデル(MM)×2、ヒューマンボディモデル(HBM)×２が装着されてます。お客様の要望に合わせた印加ユニットも制作可能です。（HBM）×4など
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