取扱製品｜美浜株式会社

ＣＤＭ試験装置（CDM TESTER） C5000R（256～1024PIN対応）

ＣＤＭ試験装置（CDM TESTER）C5000R（256～1024PIN対応）

製品紹介

本システムは独自に開発した放電回路のユニット交換で、国内外・各規格の試験方法をサポートしている装置です。また、2015年4月に、規格が正式発行された「ANSI/ESDA/JEDEC JS002-2014」放電波形のパラメーターの印加ユニットについても対応が可能です。

CDM試験装置は「阪和電子工業株式会社」が製造元となります。

特長

最新規格に対応(C5000R　初対応)

  • 「ANSI/ESDA/JEDEC JS002-2014」の対応印加ユニット、環境も対応できる仕様。

温湿度制御(C5000R　初対応)

  • 窒素ガス・ドライエアによる温湿度管理が可能。

PIN先の見える化(C5000R　初対応)

  • すべての試験方法で、CCDカメラにてPIN先のデバイスへのアクセスが見える化。

デバイスフリー

  • さまざまなデバイス形状に対応。（測定可動範囲80㎜×200㎜）

印加電圧範囲

  • +/-10V～+/-4000V(+/-5Vstep)

仕様

試験機モデル HED-C5000R
対応試験規格 JEDEC/ESDA/AEC/JEITA
テストピン数 1024pin or Higher(Option)
重電電圧 +/-10V～+/-4000V
ステップ電圧 5V
印加回数 1～99times
インターバルタイム 0.3～9.9s
重電電圧精度 1%+5V
電源電圧 100-240V/2A,50/60Hz
外形寸法 575(W)×400(D)×300(H)
重量 40kg

ANSI/ESDA/JEDEC JS002-2014について

  • 「規格の内容は、JEDECとESDAの内容をマージしたような規格である。
  • JEDECを基準とし、技術的に不足した部分を、ESDAから取り込んでいる。
  • JEDECは、「JESD22-C101F」、ESDAからは、「ANSI/ESD S5.3.1-2009」からの変更。

ANSI/ESDA/JEDEC JS002-2014主な変更点の比較表

Standard ANSI/ESDA/JEDEC JS-002 2014 JESD22-C101F ANSI/ESD S5.3.1-2009
測定環境 室温で湿度30%以下 室温で湿度60%以下 室温
波形観測用オシロスコープ 1GHzと6GHzの併記 1GHz 1GHzと3GHzの併記

＊C5000Rは、本変更点にも準拠しております。

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