阪和電子工業㈱　半導体解析装置

デバイスへの静電気耐圧試験およびラッチアップ試験
- 静電破壊装置：コンデンサ放電によるHBM、MMに対応した試験
  - HED-S5000-DCPC2シリーズ, HED-S5000シリーズ, HED-N5000-DCPCシリーズ, HED-S2000-VIPCシリーズ
- CDM試験器：電位ポテンシャルの異なる物体に接触した時の破壊
  - HED-C5002M
- Wafer ESD試験器：Wafer上でHBM、MMの試験が可能
  - HED-W5100D, HED-W5000M
- ラッチアップ試験器：トランジェントパルス。定電流パルス等による試験が可能
  - HLT-N9000Dシリーズ, HLT-N3000Dシリーズ
IDDQによる性能評価試験
- HPG-3256N
DC特性評価と抵抗測定
- HED-V3256N4, HED-V3512S4
デバイスの保護回路動作試験
- HED-T5000シリーズ
発光ダイオード/レーザダイオードのESD試験
- HLD-501シリーズ