阪和電子半導体解析装置:DC特性評価と抵抗測定
オープンショートテスタ:ダイオード特性や抵抗値を任意のピン間で測定。良品との比較機能も装備。
HED-V3512S4
![]() HED-V3512S4 |
仕様 |
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| 試験ピン数 |
Max 1024ピン | |
| 出力電圧/電流 | Max ±10V(0.01V step) | |
| 電流測定レンジ | 100nA, 1μA, 10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA |
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| 測定精度 | フルスケールの1% | |
| 測定ポイント | 20ポイント |
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| 測定テーブル数 | Max 10テーブル | |
| シリーズ抵抗 | 100Ω、1KΩ、10KΩ、100KΩ | |
| 電圧設定モード | 電圧降下法と実電圧法から選択 | |
| OS | Windows2000/XP | |
特徴
1. CSPやBGAパッケージのオープンショート試験に!
1024ピンまでのオープンショート試験ができます。外部電源は最大4台まで。
2. 良否判定に最適なトレース機能
トレース機能を使って基準サンプルと試験サンプルの良否判定ができます。
3. 抵抗測定が可能
任意のピン間抵抗を4端子法で測定できます。測定範囲:0.01Ω~100Ω 測定精度:± 0.01%
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