阪和電子半導体解析装置：デバイスへの静電気耐圧試験およびラッチアップ試験

・静電破壊装置：コンデンサ放電によるHBM、MMに対応した試験

　HED-S5000シリーズ

HED-S5256A	仕様
	最大測定ピン数	256ピン
	パルス印加モデル	HBM/MM
	対応波形規格	JEITA、ESDA、JEDEC
	印加電圧	±4KVオプション（±8KV)
	印加電圧ステップ	10V
	パルス印加回数	1 - 99回
	パルスインターバル	0.3 - 9.9s

特徴
1.　カーブトレーサと接続して簡単に破壊判定ができます。
2.　自動測定装置へのアップグレードが可能です。
3.　試験ピン数や測定用途に応じて下記機種から選択できます。

機種モデル	カーブトレース端子	外部端子
HED-S5128M	○	無し
HED-S5128A	○	○
HED-S5256M	○	無し
HED-S5256A	○	○

 

半導体解析装置メニューへ戻る