阪和電子半導体解析装置：デバイスへの静電気耐圧試験およびラッチアップ試験
・静電破壊装置：コンデンサ放電によるHBM、MMに対応した試験
HED-S2000-VIPCシリーズ
 HED-S2000-VIPC |
仕様 |
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| 1024ピン | ||
| パルス印加モデル | HBM/MM | |
| 対応規格 | JEITA、ESDA、JEDEC | |
| 印加電圧 | ±4KVオプション（±8KV) | |
| 印加電圧ステップ | 10V | |
| パルス印加回数 | 1 - 99 times | |
| パルス間隔時間 | 0.3 - 9.9s | |
| 測定電圧電流 | ±10V/100mA (0.1Vステップ) | |
| 測定精度 | 0.5± (1/500FS ±1nA) | |
| O/S | Windows2000/XP | |
特徴
1. 低コストで多ピン試験への対応
低コストで1024ピンまでのデバイスを試験できます。
2. 多様な規格波形への対応
日本、海外の規格に対応した信頼性の高い装置です。（JEITA規格、ESDA規格、JEDEC規格）
3. 世界最小のコンパクトタイプ
本体寸法は400(W) x 340(H) x 450(D)とコンパクトなミニ試験器です。
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