阪和電子半導体解析装置：デバイスへの静電気耐圧試験およびラッチアップ試験
・CDM試験器：電位ポテンシャルの異なる物体に接触した時の破壊
HED-C5002M
 HED-C5002 |
仕様 |
|
| 1024ピン | ||
| 放電回路インダクタンス | 約7nH | |
| 充電電圧 | 0 - ±4000V | |
| ステップ電圧 | 5V | |
| 印加回数 | 1 - 99 times | |
| パルス間隔時間 | 0.3 - 9.9s | |
| 充電電圧精度 | 1% ± 5V | |
| 移動時間 | 0.8S/1ピン | |
| 移動精度（X-Y) | 0.1mm | |
| 電源電圧 | 100V/2A(本体）50/60Hz | |
| 外形寸法 | 575(W) x 400(D) x 300(H) | |
| 重量 | 本体ユニット約35kg | |
| コントローラー | PC/ATコンパチブル | |
| O/S | Windows2000/XP | |
アクセサリー |
波形観測治具：JEITA、ESDA、JEDEC | |
| 印加ユニット：JEITA（標準）、ESDA、JEDEC（オプション） | ||
| デバイス取付治具 | ||
| 容量計 | ||
特徴
1. 単一放電経路の実現
全ての試験ピンに同じ放電経路を使用します。これらは放電波形の安定性、故障の軽減につながります。
2. 多様な規格波形への対応
日本、海外の規格に対応した信頼性の高い装置です。（JEITA規格、ESDA規格、JEDEC規格）
3. ラッチアップ試験への対応
パルス電流法、電源過電圧法、ESDパルス印加法への対応が可能です。
半導体解析装置メニューへ戻る